Author details
Author's Published Works
A.B. Filuk;J.E. Bailey;A.L. Carlson;B.F. Clark;P. Lake;G. Tisone;Y.C. Maron
T.J. Renk;G.C. Tisone;R.G. Adams;B.F. Clark;C. Reyes;J.E. Bailey;A.B. Filuk;M.P. Desjarlais;D.J. Johnson;A.L. Carlson;P. Lake
Gaiy C. Tisone;T. J. Renk;D. J. Johnson;R. A. Gerber;R. G. Adams
A. B. Filuk;J. E. Bailey;K. W. Bieg;A. L. Carlson;T. J. Renk;G. C. Tisone;Y. Maron
T. A. Mehlhorn;L. D. Bacon;J. E. Bailey;D. D. Bloomquist;G. A. Chandler;R. S. Coats;D. L. Cook;M. E. Cuneo;M. S. Derzon;M. P. Desjarlais;R. J. Dukart;A. B. Filuk;T. A. Haill;D. L. Hanson;D. J. Johnson;R. J. Leeper;T. R. Lockner;C. W. Mendel;L. P. Mix;A. R. Moats;J. P. Quintenz;T. D. Pointon;T. J. Renk;G. E. Rochau;S. E. Rosenthal;C. L. Ruiz;D. B. Seidel;S. A. Slutz;R. W. Stinnett;W. A. Stygar;G. C. Tisone;R. E. Olson;J. P. Van Devender;D. F. Wenger
T. A. Mehlhorn;L. D. Bacon;J. E. Bailey;D. D. Bloomquist;G. A. Chandler;R. S. Coats;D. L. Cook;M. E. Cuneo;M. S. Derzon;M. P. Desjarlais;R. J. Dukart;A. B. Filuk;T. A. Haill;D. L. Hanson;D. J. Johnson;R. J. Leeper;T. R. Lockner;C. W. Mendel;L. P. Mix;A. R. Moats;J. P. Quintenz;T. D. Pointon;T. J. Renk;G. E. Rochau;S. E. Rosenthal;C. L. Ruiz;D. B. Seidel;S. A. Slutz;R. W. Stinnett;W. A. Stygar;G. C. Tisone;R. E. Olson;J. P. Van Devender;D. F. Wenger
M.E. Cuneo;D.L. Hanson;P.F. McKay;J.E. Maenchen;G.C. Tisone;R.G. Adams;T. Nash;M. Bernard;C. Boney;J.R. Chavez;W.F. Fowler;J. Ruscetti;W.F. Steams;D. Noack;D.F. Wenger
T.J. Ronk;G.C. Tisone;R.G. Adams;M. Lopez;B.F. Clark;J. Schroeder;J.E. Bailey;A.B. Filuk;A.L. Carlson
K. W. Bieg;G. C. Tisone;T. R. Lockner;J. E. Bailey;M. E. Cuneo;B. F. Clark;J. E. Potter;L. P. Schanwald
R. W. Stinnett;J. E. Bailey;K. W. Bieg;R. S. Coats;G. Chandler;M. S. Derzon;M. P. Desjarlais;P. L. Dreike;R A. Gerber;D. J. Johnson;R. J. Leeper;T. R. Lockner;J. Maenchen;T. A. Mehlhorn;A. L. Pregenzer;J. P. Quintenz;T. J. Renk;S. E. Rosenthal;C. L. Ruiz;S. A. Slutz;W. A. Stygar;G. C. Tisone;J. R. Woodworth;Y. Maron
R. W. Stinnett;J. E. Bailey;K. W. Bieg;R. S. Coats;G. Chandler;M. S. Derzon;M. P. Desjarlais;P. L. Dreike;R A. Gerber;D. J. Johnson;R. J. Leeper;T. R. Lockner;J. Maenchen;T. A. Mehlhorn;A. L. Pregenzer;J. P. Quintenz;T. J. Renk;S. E. Rosenthal;C. L. Ruiz;S. A. Slutz;W. A. Stygar;G. C. Tisone;J. R. Woodworth;Y. Maron
D. L. Cook;J. E. Bailey;K. W. Bieg;D. D. Bloomquist;R. S. Coats;G. C. Chandler;M. E. Cuneo;M. S. Derzon;M. P. Desjarlais;P. L. Dreike;R. J. Dukart;R. A. Gerber;D. J. Johnson;R. J. Leeper;T. R. Lockner;D. H. McDaniel;J. E. Maenchen;M. K. Matzen;T. A. Mehlhorn;L. P. Mix;A. R. Moats;W. E. Nelson;T. D. Pointon;A. L. Pregenzer;J. P. Quintenz;T. J. Renk;S. E. Rosenthal;C. L. Ruiz;S. A. Slutz;R. W. Stinnett;W. A. Stygar;G. C. Tisone;J. R. Woodworth;J. P. VanDevender
D. L. Cook;J. E. Bailey;K. W. Bieg;D. D. Bloomquist;R. S. Coats;G. C. Chandler;M. E. Cuneo;M. S. Derzon;M. P. Desjarlais;P. L. Dreike;R. J. Dukart;R. A. Gerber;D. J. Johnson;R. J. Leeper;T. R. Lockner;D. H. McDaniel;J. E. Maenchen;M. K. Matzen;T. A. Mehlhorn;L. P. Mix;A. R. Moats;W. E. Nelson;T. D. Pointon;A. L. Pregenzer;J. P. Quintenz;T. J. Renk;S. E. Rosenthal;C. L. Ruiz;S. A. Slutz;R. W. Stinnett;W. A. Stygar;G. C. Tisone;J. R. Woodworth;J. P. VanDevender
T.J. Renk;P.L. Dreike;G.C. Tisone;G. Chandler;R.R. Johnston;K.P. Lamppa;B.F. Clark
P.L. Dreike;G.C. Tisone;D.B. Appel;F.P. Gerstle;K.P. Lamppa;D.M. Mattox;H.L. McCollister;R.H. Moore;T.J. Renk
T.J. Renk;R.R. Johnston;P.L. Dreike;G.C. Tisone;J.E. Maenchen
R. A. Gerber;K. W. Bieg;E. J. T. Burns;P. L. Dreike;J. Maenchen;T. A. Mehlhorn;J. N. Olsen;A. L. Pregenzer;J. K. Rice;M. A. Sweeney;G. C. Tisone;J. R. Woodworth
A not-for-profit organization, IEEE is the world's largest technical professional organization dedicated to advancing technology for the benefit of humanity.
© Copyright 2025 IEEE - All rights reserved. Use of this web site signifies your agreement to the terms and conditions.